새로운 윤곽 형상 검출기

NEW 스트레이트 암을 채용한 검출기
측정 범위의 확대와 함께 워크 간섭을 최소화
- 신규 설계된 스트레이트 암은 워크에 대한 간섭을 줄이고
Z1축(검출부) 측정 범위의 확대를 실현합니다.

암 부착은 원터치 탈착
- 암 부착부에 마그넷 조인트를 사용하여 스피드한 암 교환이
가능합니다. 또한 탈착부에 안전 장치를 내장하고 있습니다.

●각종 표면 조도 규격에 대응

JIS'82/94'/01,ISO,ANSI,VDA 등 각국 표면 조도 규격에 대응하고 있습니다.

●표면 조도 검출기도 측정력 마다 라인 업

표준 검출기도 측정력 0.75mN 사양(팁 각도:60˚, 팁 반경:2㎛), 측정력 4mN 사양(팁 각도:90˚, 팁 반경:5㎛)에서 선택할 수 있어서 규격에 맞는 측정이 가능합니다.

●측정 시간의 단축, 측정 작업자의 부담을 최소화

측정기 본체의 고속 이동에 더해 오토 레벨링 테이블(옵션)을 사용하면 번거로운 측정면의 레벨링 조정도 자동으로 실행되고, 셋팅 시간과 작업자의 부담이 줄어듭니다.

- X축(구동부):80mm/s(최대)
- Z2축(컬럼 상하이동):30mm/s(최대)
이동 속도의 고속화로 총 측정 시간이
단축됩니다.

- 리모트 박스로 위치 결정에서 측정까지 고속 이동으로 가능합니다.
또 고속 이동 시의 안전성을 향상시키기 위하여 리모트 박스에 비상 정지 스위치와 구동 스피드 컨트롤 손잡이를 배치하였습니다.

- 고속 이동 할 때의 안전성을 향상시키기 위하여 Z1축 검출기에 안전 장치(충돌 시 자동 정지 기능)를 탑재하였습니다.
윤곽검출기는 암이 탈착부에서 떨어지거나 어긋난 경우에도 안전 장치가 작동하여 자동으로 정지합니다.

- Z2축(컬럼 상하이동)에 ABS(절대) 스케일을 탑재하여 단차 측정이나 복수 단면
반복 측정 시의 번거로운 원점 설정이
불필요합니다.

윤곽 형상 측정
● 윤곽 형상 해석 기능

표면 조도 측정
● 표면 조도 해석 기능

● 윤곽 조합 기능을 표준 탑재
● 설계값 생성 기능
● 데이터 합성 기능
● 간단한 피치 계산 기능

● 미세 윤곽 해석 기능
● 도면 지시 기호에 의한 간단 입력
● 복수 위치 측정 기능
● 복수 위치 측정에 의한 해석 기능
● 기준 길이 다이얼로그 박스
● 프리뷰 해석 조건 변경
● R면 자동 측정 기능

통합 레이아웃
- 표면 조도, 윤곽 형상, 진원도의 측정 결과나 측정 도형 등을 간단하게 조작하여 종이 1장에 레이아웃 할 수 있습니다. 또한 보존된 파일을 지정한 붙여 넣기가 가능해져 여러 개의 결과 파일을 붙여 넣기가 쉽습니다.
※ 별도로 진원도·원통 형상 해석 프로그램 ROUNDPAK(대응 버전은 별도 문의)이 필요합니다.
 

● 시스템 레이아웃 인쇄
● 보고서 작성 기능
● WEB 페이지로 결과 보존

※1: 팁 각도 60˚
※2: 아래 방향 측정 시에만 가능

※1: 팁 각도 60˚
※2: 아래 방향 측정 시에만 가능
※스타일러스의 주문 제작이 가능합니다. 대응 가능한 사양에 대해서는 폐사 영업부에 문의 주십시오.

원통 형상 워크의 표면 조도, 윤곽 형상 측정에서 워크의 모선축과 측정축을 평행하게 세트하면서 동시에 레벨링 조정도 하는 것은 고정도를 위해 필요합니다. 3축 조정 테이블을 사용하면 가이던스에 따라 조작하기만 하면 센터링과 레벨링 조정을 간단히 할 수 있습니다. 따라서, 경험과 감은 필요하지 않습니다.

※ 1 : SV-C3200 시리즈 상향 측정 교정 시에 필요합니다. (윤곽 형상 측정 시)
※ 2 : 레벨링 테이블, Y축 테이블을 사용하지 않고 스트레이트 암/스몰 홀 암을 장착하여 일괄 교정 할 때 필요합니다. (윤곽 형상 측정 시)
※ 3 : 레벨링 테이블, Y축 테이블을 사용하지 않고 스트레이트 암/편심암/스몰 홀 암을 장착하여 일괄 교정할 때 필요합니다.
※ 4 : 상품명 끝의 S4,S8,H4,H8용입니다. W4, W8(대형 베이스 사양)용은 별도 문의 주십시오.
※ 5 : 제진대 (No.12AAK110)과 병행
※ 6 : 프린터용 랙은 별도 주문 주십시오.

부호
Model No.

SV-C3200S4 (525-481-1/-2)

SV-C3200H4
(525-482-1/-2)

SV-C3200W4 (525-483-1/-2)

SV-C3200S8
(525-486-1/-2)

SV-C3200H8
(525-487-1/-2)

SV-C3200W8
(525-488-1/-2)

표면 조도 측정 시

X 축 (구동부)

100mm

200mm

Z1축 (검출부)

800µm / 80µm / 8µm

(0.05+L/1000)µm  L:구동 길이(mm)

0.5µm / 200mm

0.01µm(800µm), 0.001µm(80µm), 0.0001µm(8µm)

측정력

0.75mN(본체 코드 No. 끝이 「-1」인 기종) / 4mN(본체 코드 No. 끝이 「-2」인 기종)

스타일러스 팁 형상

60˚, 2µmR(본체 코드 No. 끝이 「-1」인 기종) / 90˚, 5µmR(본체 코드 No. 끝이 「-2」인 기종)

대응 규격

JIS'82, JIS’94, JIS’01, ISO'97, ANSI, VDA

파라미터

단면 곡선, 조도 곡선, 노파 기복 곡선, 기복 곡선, 구름 원 기복 단면 곡선, 구름 원 기복 곡선, 인벨로프 레지듀얼 곡선, DF곡선(DIN4776/ISO13565-1), 조도 모티브(엔벨로프 기복 곡선은 모티프 평가시에 표시)

부하 곡선, 진폭 분포 곡선, 파워 스펙트럼, 자기 상관, Walsh 파워 스펙트럼, Walsh 자기 상관, 산높이 분포, 경사각 분포, 파라미터 분포(마모량, 중첩은 윤곽 해석으로 면적 등의 해석 가능)

곡선 보정

최소 이승 직선, R면 보정, 타원 보정, 포물선 보정, 쌍곡선 보정, 코닉 보정, 다항식 보정(자동 또는 임의 2차~7차), 보정 없음

필터

Gaussian, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, Robust Spline

윤곽 형상 측정 시

100mm

200mm

60mm (암 수평 상태보다 ±)

진직 정도

0.8㎛ / 100mm

2㎛ / 100mm

지시 정도

X축 (구동부)

±(0.8+0.01L)㎛  L : 구동 길이(mm)

±(0.8+0.02L)㎛  L : 구동 길이(mm)

Z1축 (검출부)

SV-C3200 시리즈 : ±(1.6 + I  2H  I / 100)㎛, SV-C4500 시리즈 : ±(0.8 + I  2H  I / 100)㎛
H : 수평 위치로부터의 측정 높이 (mm)

분해능

X축 (구동부)

0.05㎛

Z1축 (검출부)

SV-C3200 시리즈 : 0.04㎛, SV-C4500 시리즈 : 0.02㎛

Z2축 (컬럼)

1㎛

측정력

SV-C3200 시리즈 : 30mN(무게에 의한 조정), SV-C4500 시리즈 : 10, 20, 30, 40, 50mN (소프트웨어에 의한 변환)

측정면 방향

SV-C3200 시리즈 : 상하 양방향 (단독 측정), SV-C4500 시리즈 : 상하 양방향(상하면 연속 측정 가능)

공통 사양

Z2축 (컬럼) 이동 범위

300mm

500mm

300mm

500mm

X축 경사 각도

±45˚

구동 속도

X축

0~80mm/s 및 수동

Z축 (컬럼)

0~30mm/s 및 수동

측정 속도

0.02~5mm/s