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MiniTest 3100 < 프로브 상세 사양 >
.JOJ5FTU ਵ۽ 6QHSBEF
௏౴ فԋ ஏ੿ӝ MiniTest 3100 ӝઓ .JOJ5FTU ਊ ೐۽࠳ח 프로브 측정 범위 최소 분해능 정밀도 1) 최소 곡면 반경 최소 최소 크기 (mm)
단종
৻੢ܻ࠙ഋ ೐۽࠳ .JOJ5FTU җ ഐജ оמ 종류 (볼록/오목) 측정면적 소재두께
1 _ FN 1.6 0 - 1600㎛ 0.1㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) 1.5mm/10mm Ø 5mm Ø 15x62
$PBUJOH UIJDLOFTT HBVHF FN 1.6 P 0 - 1600㎛ 0.1㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) Only flat Ø 30mm F 0.5mm Ø 21x89
FN 1.6-90 0 - 1600㎛ 0.1㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) flat/6mm Ø 5mm N 50㎛ Ø 8x11x15.9
FN 2-90 0 - 2000㎛ 0.2㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) flat/6mm Ø 5mm Ø 8x11x15.9
F 05 0 - 500㎛ 0.1㎛ ± (0.7㎛ + 측정값의 1%) 0.75mm/5mm Ø 3mm 0.1mm Ø 12x49
F 1.6 0 - 1600㎛ 0.1㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) 1.5mm/10mm Ø 5mm 0.5mm Ø 15x62
F 3 ★ 0 - 3000㎛ 0.2㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) 1.5mm/10mm Ø 5mm 0.5mm Ø 15x62
견고한 코팅 두께 측정기
F 1.6-90 0 - 1600㎛ 0.1㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) flat/6mm Ø 5mm 0.5mm Ø 8x11x15.9
ஏ੿ ߧਤ F 2-90 0 - 2000㎛ 0.2㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) flat/6mm Ø 5mm 0.5mm Ø 8x11x15.9
ъ୍ ਤ ࠺੗ࢿ ௏౴ ৘ ಕੋ౟ ইো F 10 0 - 10mm 5㎛ ± (10㎛ + 측정값의 1%) 5mm/16mm Ø 20mm 1mm Ø 25x46
࠺୍ Әࣘ ਤ ੺ো ௏౴ ৘ ಕੋ౟ নӓ࢑ച ௏౴ F 20 0 - 20mm 10㎛ ± (10㎛ + 측정값의 1%) 10mm/30mm Ø 40mm 2mm Ø 45x65
੺ো ӝ౸ ਤ ࠺୍ Әࣘ ௏౴ F 50 0 - 50mm 10㎛ ± (50㎛ + 측정값의 3%) 50mm/200mm Ø 300mm 2mm Ø 45x70
׮ݾ੸ ղ݃ݽ ೐۽࠳ N 08 CR 0 - 80㎛ 0.1㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) 2.5mm/10mm Ø 5mm ≥100㎛ Cu Ø 16x70
֫਷ ੿޻ب৬ ߈ࠂ ੿޻ب N 02 0 - 200㎛ 0.1㎛ ± (0.5㎛ + 측정값의 1%) 1mm/5mm Ø 2mm 50㎛ Ø 16x70
ஏ੿ч ੷੢ ߂ ޙࢲച N 1.6 0 - 1600㎛ 0.1㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) 1.5mm/10mm Ø 5mm 50㎛ Ø 15x62
N 1.6-90 0 - 1600㎛ 0.1㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) flat/6mm Ø 5mm 50㎛ Ø 8x11x15.9
N 2-90 0 - 2000㎛ 0.2㎛ ± (1㎛ + 측정값의 1%) flat/6mm Ø 5mm 50㎛ Ø 8x11x15.9
N 10 0 - 10mm 10㎛ ± (25㎛ + 측정값의 1%) 25mm/100mm Ø 50mm 50㎛ Ø 60x50
.JOJ5FTU
N 20 0 - 20mm 10㎛ ± (50㎛ + 측정값의 1%) 25mm/100mm Ø 70mm 50㎛ Ø 65x75
N 100 0 - 100mm 100㎛ ± (0.3㎛ + 측정값의 1%) 100mm/flat Ø 200mm 50㎛ Ø 126x155
CN 02 2) 10 - 200㎛ 0.2㎛ ± (1㎛ + 측정값의 3%) Only flat Ø 7mm Ø 17x80
< 개요 > < 측정 범위 > < 특징 >
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< 권장 악세사리 >
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< MiniTest 3100 사양 >
측정값 및 킳계 인쇄를 위템 케이블 없이
측정기에 연결되는 MiniPrint 4100 휴대용 어댑킕 (230V) 및 MiCd 충전 배킕리
애텇리케이션 메모리 수 : 10
MiniTest 각 애텇리케이션 메모리 배치 수 : 10 데이킕 텅린킕, 배킕리 및 충전기 내장
메모리 용량 측정값 턝텘 배치 수 : 최대 100개
최대 저장 측정값 수 : 10,000개

1. 단일 값: 턘균, 턩준턓차, kvar, 측정수, 최대값, 최소값
2. 단일 값: 턘균, 턩준턓차, kvar, 측정수, 최대값, 최소값, CP, CPK
3. 블록 킳계: 턘균, 턩준턓차, kvar, 측정수, 최대값, 최소값
통 계 4. 블록 킳계: 턘균, 턩준턓차, kvar, 측정수, 최대값, 최소값, CP, CPK 측정기와 인쇄기를 위텕 탔윈 케이스 생산 또는 작은 부턴 측정을 위텕 정밀 스킌드
5. 같은 애텇리케이션(APPL) 내의 모든 텓위 그룹(BATCH)
6. APPL-BATCH 그룹 별로 값 및 킳계 인쇄
7. 인쇄 및 측정 시점에 날짜와 시간 턩시 및 인쇄(연, 월, 일, 시, 분)

코탩을 킳텕 교정(CTC) ㎛ 또는 mils로 측정
거친 턩면 위의 측정. 조도의 영텦을 거의 제거텖 수 있음 최소값과 최대값 확인을 위템 고속 탭독을 이용텕 연속 측정 모드 데이킕 전송을 위텕 PC 턘가 텅로그램 두께 범위 10㎛에서
OFFSET 텘수에 상수 더텓기 또는 빼기 빠른 턩시(7개 측정값/초)를 위텕 연속 모드에서 선킋 가능텕 안정화 절차 Msoft7000 기본 에디션과 측정값, 최대 8mm까지 캘리브레이션 시턓
캘리브레이션 측정값을 메모리로 전송텓기 위텕 외부 기능 (탔리거) 부동 또는 고정 십진 소수점으로 데이킕 전송 옵션 : 제조업체 정밀도 인증서
방법 킳계 및 히스킬그램 처리를 위텕 MSOFT 41 M : DIN 55350 탪탔 18 기준
캘리브레이션 보호를 위텕 큸 잠금 텅로브를 연결텓지 않고 측정값 읽기
배킕리 교체 중 측정값 저장 1개 배치의 개별 값들 나중 출력
리밋 설정 연속 모드에서 최소값 턩시

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